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产品简介
ITC57300 动态参数测试系统
ITC57300 动态参数测试系统主机可接受对半导体器 件(如绝缘栅双极晶体管 (IGBT)、功率 MOSFET、二 极管和其他双极器件)进行非结构性瞬态测量的测 试头(需要额外的可选偏置电源供应器和定制个性 板)。
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